| 2023年12月 |
年末年始の休みについて
2023年12月29日より2024年1月4日まで休業を指せて頂きます。
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| 2023年12月 |
『SEMICON JAPAN2023』に
Frontier Semiconductor社と共同で出展いたします。
会期： 2023年12月13日(水)〜12月15日(金)
開場時間： 10：00〜17：00
会場： 東京ビッグサイト
小間番号： 東7ホール 7123
公式サイト： https://www.semiconjapan.org/jp/
皆様のご来場を心よりお待ちしております。
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| 2021年1月 |
皖東電子株式会社の代理店になりました。
Aurora Scientific社の筋肉生理学、神経科学、材料科学用装置を扱います。
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| 2020年12月 |
年末年始の休みについて
2020年12月27日より2021年1月4日まで休業を指せて頂きます。
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| 2019年11月 |
レーザエリプソメータ中古について(メーカ保証付き) |
| 2017年12月 |
年末年始の休みについて
2017年12月29日より2018年1月9日まで休業を指せて頂きます。
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| 2017年9月 |
応用物理学会秋期展示会に出展します。
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| 2016年1月 |
分光エリプソメータの新オプションの発売
DUV(190nm〜）仕様の装置が発売されました。
N2パージ無しで使用できます。
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| 2015年7月 |
FSM社の日本支店（FSM-J)の閉鎖に伴い弊社が引き続き行う事になりました。
営業、技術及びサポートを含む。宜しくお願いします。
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| 2013年11月 |
セミコンジャパン２０１３に出展します。
期間：2013年12月4日〜6日、場所：幕張メッセ
小間番号：４B-512
出展製品
レーザエリプソメータ（LSE)、分光エリプソメータ（Elli-SE)、太陽電池対応膜j膜測定器（Elli-RI)、DLC対応膜厚計 （EL2）、ライフタイム測定器、ウェハー加工サービス等。 実機も展示しております。
出展は、１小間ですが皆様のご来場をお待ちしております。 |
| 2013年8月 |
DLC対応膜厚計 Model::EL2 の取扱を開始。 新製品
平面上及び曲面上の測定が可能です。 |
| 2013年3月 |
ＳＶＭＩ社より特別販売
450mmSiウェハー＆サファイヤ基板の期間限定販売 |
| 2013年1月 |
新製品
価格もリーズナブルになった太陽電池専用ライフタイム測定器及び温度依存性の解析可能タイプが加わりました。
・米国シントン社より太陽電池専用のライフタイム測定器が販売開始。
（Suns-Voc stand-alone system）
・更にＷＣＴ−１２０シリーズに新たに温度依存性のウェハーライフタイムを解析タイプが加わりました。
（ＷＣＴ−１２０ＴＳ：Temperature Dependent Lifetime Measurement） |
| 2012年12月 |
年末年始の休業について
１２月２９日〜１月６日まで休業と指せて頂きます。 |
2012年10月10日
2012年11月29日追記 |
セミコンジャパン２０１２
2012年12月5日〜7日 10：00〜17:00 幕張メッセ
小間番号：４Ｂ−３１５
実機展示品
ＬＳＥ： レーザエリプソメータ
Ｅｌｌｉ−ＳＥ： 分光エリプソメータ
Ｅｌｌｉ−ＲＩ： 太陽電池用薄膜測定器
ＷＣＴ−１２０： ライフタイム測定器（太陽電池にも対応） |
2012年9月20日
2012年11月29日追記 |
各種ウェハーサービスで新たに450mmシリコンウェハーを小ロット（1枚〜）で提供開始します。従来の2インチから300mmも宜しくお願いします |
| 2012年9月5日 |
弊社以外で購入された方へ
シントン社製ライフタイム測定器の各種サービス及び取扱説明のサポートいたします |
| 2012年8月 |
セミコンジャパン２０１２に出展をします
詳細は後日、HP上に記載します |
| 2012年4月 |
4月から5月のゴールデンウィーク期間の休みについて |
| 2012年3月 |
最新デモについて
分光エリプソメータ＆レーザエリプソメータの準備が出来ております
干渉膜厚計も準備できております
太陽電池用膜厚計（Ｅｌｌｉ−ＲＩ） 太陽電池上（テクスチャー形状）の膜厚を簡便に測定が可能です。 期間限定。 測定例はアプリケーションノートでご確認下さい |
| 2012年2月10日 |
第５９回 応用物理学関係連合講演会 理化学・計測機材展に出展します。
Expo Spring 2012
２０１２年３月１５日〜１８日 早稲田大学、早稲田中・高等学校
小間番号：２B-18 |
| 2012年2月8日 |
英語の会社案内
English Coporate profile. |
| 2011年12月13日 |
年末年始の休業について |
| 2011年10月12日 |
セミコンジャパン２０１１に出展します。
2011年12月7日（水）〜9日（金） 10:00-17:00 幕張メッセ
小間番号： ３D-806
実機を展示します。レーザエリプソメータ、分光エリプソメータ、ライフタイム測定器他、Solar Cell Film 測定器 |
| 2011年5月9日 |
製品情報で最新の製品カタログ201105版を記載 |
| 2011年4月 |
米国Sinton社 Lifetime測定器の取扱を開始。 |
| 2011年4月 |
4月末から5月の長期連休について |
| 2011年3月 |
FSM8800&FSM128のサービスについて |
| 2010年12月10日 |
年末年始の休業について |
| 2010年12月 |
セミコンジャパン２０１０出展
出展社の名称はガートナサイエンティフィック社で弊社が運営致します。
小間番号：2D-902 |
| 2010年7月 |
横浜事業所を閉鎖。
東京都大田区仲池上にテクニカルセンターを開設。
〒146-0081 東京都大田区仲池上2-11-3 |
| 2010年7月 |
ホームページをリニューアル
これから随時行って参ります。 |
| 2010年5月 |
・小ロットウェハーサービス
・エリプソメータレンタル（レーザ＆分光）
・エリプソメータ中古販売 |
| 2010年4月 |
FSM社（米国）の取扱を始めました。
また、サービスを再開。
ストレス測定器（常温及び高温（900°）及び密着度測定装置他。 |
| 2009年5月 |
新事務所に移転しました。
東京都大田区西馬込から南馬込です。最寄りの西馬込駅前です。
新たに横浜市鴨居に事業所を開設。 |
